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二極管失效的主要原因

日期:2024-02-21 分類:產品知識 瀏覽:719 來源:


1.電壓擊穿(過壓)

普通整流二極管來講,只要應用電路中存在電網波動、同網中的大功率設備開啟關斷、雷擊、開關火花、大容量的感性負載、

大容量的容性負載這些情況下,瞬間電壓高于二極管反向擊穿電壓值時,就可能產生電壓損傷參數衰減或完全擊穿短路開路的

情況。 對保護二極管來說,就是電路中存在高于器件保護電壓的,造成保護器件連續導通,使保護器件永久損傷不可恢,即可

能發生電壓損傷參數衰減或完全擊穿短路開路的情況。電壓擊穿失效時間無固定規律,但較大概率發在開關機瞬間。  

2.電流擊穿(過流)

應用選型余量不足、應用電路中有其它元件發生短路導致電流突然增大、應用電路中負載異常等情況時,瞬間大電流造成二極

芯片在極短時間內高溫碳化或瞬間高溫造成芯片炸裂,導致芯片PN結遭到嚴重破壞,出現短路或開路情況。電流擊穿發生較

高概率為通電測試過程中或正常使用過程中。

3.溫度擊穿(過溫)

應用選型余量不足、器件設計位置靠近大功率發熱元件、應用環境溫度過高等情況時,二極管芯片結溫超過其電流衰減溫度,

二極管的過電流能力線性下降,而線路中的電流不變時,二極管的芯片結溫將迅速增高,達到材料的極限溫度后,發生硅

基材料熔化和碳化,出現短路或開路情況。溫度擊穿多發生于老化或用戶使用過程中。

4.應力損傷(應力)

由于硅基芯片為高硬度的薄片,抗機械應力能力較弱,在二極管封測中塑封、應用端的切腳、管腳整形折彎、電批鎖散熱片過

程、機械碰撞等過程中,造成二極管芯片受損傷或發生機械裂紋,通電時其各項電性參數衰減或失效。嚴重損傷多發生在開關

機瞬間或通電后較短時間內,輕微損傷后失效的時間無規律,安全隱患較大。

5.過載擊穿

應用選型余量問題、多管并聯使用的電路中二極管參數一致性問題、負載受外界環境因素發生功率增加等情況,出現二極管過

壓、過流、過溫中一種或多種情況同時發生,二極管在較短時間內發生擊穿短路或開路情況




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